雙探頭表面三維形貌分析系統

SKU: FM-DP-3D

產品介紹

產品介紹：

采用彩色激光共焦技術，可實現對材料表面微米、次微米級粗糙度檢測，并且可以進行2D輪廓/3D微觀形貌掃描分析，具有測量精度高，速度快，重復性好的優點。

該系統可用于測量大尺寸樣品，軟件功能含括了點測量、線測量、面測量等強大的功能，可選模塊包括2D&3D粗糙度檢測與分析、2D輪廓測量與3D形貌分析、平面度檢測、共面度檢測、平行度檢測等。

本系統特點：

一、采用傳動裝置：直線磁軸電機驅動

二、專業集成設計

三、豐富的三維計測

四、多樣的三維觀察

技術參數：

電動臺參數：


		FM-AR532/AR785原子力顯微鏡與激光拉曼光譜儀一體機對納米材料表面形貌、顆粒度、粗糙度和拉曼光譜性能進行表征、分析				FM-Nanoview1000AFM 分體式原子力顯微鏡帶光學定位的CCD觀測系統，實時觀測與定位探針樣品掃描區域


		FM-Nanoview6800一體式原子力顯微鏡開啟全民原子力顯微鏡時代，掃描范圍更廣，定位更精確				原子力顯微鏡光學一體機 FM-Nanoview Op-AFM


		原子力顯微鏡（環境控制型）FM-Nanoview EC-AFM				三維測量顯微鏡